閂鎖效應(yīng)
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正常情況下,當(dāng)流過器件的電流下降到?維持電流 ISB?以下時(shí),器件會(huì)自動(dòng)關(guān)斷,恢復(fù)到高阻態(tài)。但如果此時(shí)電路系統(tǒng)的電源電壓高于維持電壓,并且器件的通態(tài)電流大于維持電流,則會(huì)發(fā)生閂鎖,此時(shí)即使外部ESD事件已經(jīng)消失,但是器件仍無法關(guān)斷,一直維持在低阻抗、大電流的導(dǎo)通狀態(tài),后端被保護(hù)器件電壓跌落,可能導(dǎo)致整個(gè)電路系統(tǒng)無法正常工作,且ESD保護(hù)器件本身由于長時(shí)間承受高電流會(huì)可能會(huì)永久損壞。因此選型時(shí)盡量選用維持電壓高于系統(tǒng)的正常工作電壓的ESD保護(hù)器件,或者在對(duì)閂鎖效應(yīng)特別敏感的區(qū)域避免使用強(qiáng)Snap-Back特性的器件,從而避免閂鎖。
Snap-Back器件芯片結(jié)構(gòu)-SCR
什么是SCR結(jié)構(gòu)?
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隨著電路對(duì)寄生效應(yīng)的愈加敏感,傳統(tǒng)GGNMOS的劣勢也愈加明顯。SCR(Silicon-Controlled Rectifier)作為新興的ESD防護(hù)器件開始嶄露頭角。SCR結(jié)構(gòu)利用寄生二極管與中間的N-Well和P-Substrate共同構(gòu)成了PNPN四層結(jié)構(gòu),形成了一個(gè)寄生的可控硅整流器。當(dāng)ESD電壓超過其觸發(fā)點(diǎn)時(shí),內(nèi)部的正反饋回路(寄生NPN和PNP晶體管同時(shí)導(dǎo)通)會(huì)被激活,使器件迅速進(jìn)入低阻導(dǎo)通狀態(tài),泄放ESD電流。我司低容值雙向SCR結(jié)構(gòu)ESD管芯片結(jié)構(gòu)及其等效電路如下圖所示,相較于傳統(tǒng)的PN結(jié)ESD管有著更低的鉗位電壓及更低的結(jié)電容。